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2026/01/12

最新文章：用於半導體元件失效分析的新型亞微米紅外顯微光譜技術
已經在技術文章分享中更新上架囉！
內容與您分享O-PTIR 亞微米紅外顯微光譜技術在半導體元件失效分析中的應用，介紹其結合拉曼光譜、螢光顯微鏡與資料庫比對，針對深色材料、有機污染物、底部填充異常及電容器失效等問題進行高解析度化學鑑定。
其他亦有各類專業技術原理、應用介紹及實例分享，都可至技術支援-技術文章分享閱讀！

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