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產品資訊

粒徑分析

顆粒的大小與分佈對產品的特性、加工、品管是非常重要的資訊。一般來說,動態光散射法(DLS)因散射光強度與顆粒尺寸的六次方成正比,對大顆粒非常敏感,適合奈米等級顆粒量測,並可加zeta potential模組測量介面電位;雷射繞射法(Laser Diffraction)範圍廣泛,有濕式及乾式等不同進樣方式,可依樣品種類及需求選擇適合的機型與分散槽種類。

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