SCINCO 正式發表全新 Ignix 6100 ICP-OES(感應耦合電漿光學放射光譜儀)與 Ionix 7100 ICP-MS(感應耦合電漿質譜儀),進一步完善其元素分析儀器產品布局,為各類分析實驗室提供兼具高可靠性、高靈敏度與高效率的元素分析解決方案,滿足日常例行檢測、工業品質管制及高階科研分析等多元需求。
兩套系統分別結合光譜分析與質譜分析技術,能夠相互搭配,涵蓋從常規元素定量到超微量痕量分析的完整工作流程,廣泛適用於環境監測、食品安全、化學分析、材料科學、高純度化學品及半導體等多元應用領域。透過卓越的多元素分析能力、穩定的定量表現與靈活的系統配置,可協助實驗室提升分析效率,同時確保分析結果的準確性與可靠性。
Ignix 6100 ICP-OES 專為高速、多元素同步分析而設計,具備優異的基質耐受能力(Matrix Tolerance)及廣泛的應用彈性,可滿足不同樣品類型之分析需求。
系統採用垂直式雙視角(Vertical Dual-View)電漿炬管設計,整合軸向(Axial)觀測模式的高靈敏度與徑向(Radial)觀測模式的高耐受性,不僅可有效提升痕量元素偵測能力,同時亦能因應高濃度或複雜基質樣品,使單一平台即可涵蓋極廣的濃度分析範圍。
此外,系統搭載高效率 RF 射頻產生器及高穩定性的多維光學系統,可有效維持電漿穩定性、光譜解析品質及深紫外光區(UV)分析效能,確保各類樣品皆能獲得一致且可靠的分析結果。
Ignix 6100 核心搭載 SCINCO 自主研發之 UltraField 大面積 CCD 偵測器,具備:
系統可完整涵蓋 165–900 nm 波長範圍,並可同步分析最高 72 種元素,有效提升樣品分析通量,同時維持高度可信賴的定量分析品質。
為提升日常分析效率,Ignix 6100 更整合多項智慧化功能,包括:
上述功能可有效提升分析再現性、降低重複稀釋次數,並透過 IgnixPro 軟體平台簡化操作流程,使例行分析更加快速且穩定。
針對超微量元素分析需求,Ionix 7100 ICP-MS 結合高靈敏度、高基質耐受能力及先進干擾消除技術,可提供卓越的元素定量分析性能。
系統整合多項核心技術,包括:
藉由上述設計,可確保長時間運轉下仍維持優異的分析穩定性與儀器耐用性。
Ionix 7100 配備碰撞/反應池(Collision/Reaction Cell),並採用 Kinetic Energy Discrimination(KED)動能歧視技術,可有效降低多原子離子干擾(Polyatomic Interference),大幅提升複雜樣品中多元素分析的準確性與可信度。
同時,其先進的樣品導入與氣體控制系統,亦能因應:
等多元分析需求。
此外,Ionix 7100 亦保留高度擴充能力,可支援:
滿足各類高階研究與特殊分析應用。
Ionix 7100 搭配 IonixMaster 控制軟體,提供完整且整合式的儀器管理平台,包含:
透過直覺化操作介面,可同時滿足例行分析及高階研究工作流程,大幅提升實驗室作業效率。
Ignix 6100 ICP-OES 與 Ionix 7100 ICP-MS 的推出,進一步強化 SCINCO 在元素分析領域的產品布局,可廣泛應用於:
SCINCO 持續秉持高品質分析技術的研發理念,結合卓越的分析性能、智慧化工作流程及高度應用彈性,協助全球實驗室與合作夥伴建立更高效率、更可靠的元素分析平台,並持續提供專業且即時的技術支援服務。
