跨時代產品重磅上市｜Thermo Scientific™ Nicolet™ RaptIR™ X FTIR 顯微鏡

研究級 FTIR 顯微分析平台｜高解析、快速量測、彈性擴充

面對微小顆粒、污染物、缺陷、薄膜與多層材料等複雜樣品，Thermo Scientific™ Nicolet™ RaptIR™ X FTIR 顯微鏡結合高品質可見光顯微成像、FTIR 光譜與化學影像分析，提供從「定位、量測到鑑定」的一體化解決方案。

一台顯微鏡，掌握微觀化學資訊

RaptIR X 以研究級 FTIR 顯微分析為核心，兼顧直覺化操作與高度擴充性。透過高解析可見光影像與紅外光譜／mapping 技術，可快速定位微小特徵，並針對顆粒、異物、污染、薄膜、材料界面及失效區域進行化學鑑定。

四大核心優勢

真實 5 μm 紅外空間解析度：可解析微小化學特徵，適合微粒、薄膜、缺陷與材料界面等微區分析。
最快每秒 10 張光譜：高速資料擷取搭配自動化工作流程，加速化學 mapping、粒子分析與大面積分析。
1 μm 可見光解析度：以高解析可見光影像精準定位微小異物與樣品特徵，再進一步進行 FTIR 分析。
多模式取樣：支援穿透、反射與 Micro-ATR 等分析模式，可因應不同樣品型態與分析需求。

靈活的系統配置，隨實驗室需求擴充

Nicolet RaptIR X 可作為獨立 FTIR 顯微鏡使用，也可與 Thermo Scientific™ Nicolet™ Apex™ 或 Nicolet™ iS50™ FTIR 光譜儀整合。搭配 iS50 時，可進一步支援多光譜範圍及多技術分析，讓實驗室能依目前與未來的分析需求逐步擴充。

為複雜與大型樣品而設計

開放式、高負載樣品平台可容納厚度最高 40 mm、重量最高 5 kg 的樣品，讓大型、異形或不易切割的工業樣品也能進行微區 FTIR 分析，降低繁複的前處理需求。

多元應用領域

· 失效分析與根因調查
· 材料鑑定與未知物分析
· 工業 QA/QC 與產品一致性確認
· 高分子與多層膜／複合材料分析
· 半導體、電子與先進材料研究
· 製藥研究與配方開發
· 環境分析與微塑膠鑑定
· 鑑識、地質礦物與藝術文物分析

OMNIC Paradigm 軟體｜從影像到結果的一站式工作流程

搭配 Thermo Scientific™ OMNIC™ Paradigm Software，透過導引式操作、自動對焦、智慧化工作流程、光譜處理、化學 mapping、粒子分析與報告功能，協助不同經驗程度的使用者快速完成 FTIR 顯微分析。對於受規範實驗室，亦可搭配相關安全與資料完整性功能支援 21 CFR Part 11 等需求。

主要選配與擴充

· Germanium ATR / Diamond ATR / Imaging ATR
· Grazing Angle Objective
· Compression Cell
· VIS-IR 偏振分析
· 近紅外（NIR）顯微分析
· 螢光影像觀察
· 多種可更換式偵測器與系統配置

適合需要「看得更小、測得更快、分析更多」的實驗室

無論是產品異物分析、材料失效調查、薄膜與多層結構研究，或是微粒與污染物鑑定，Nicolet RaptIR X FTIR 顯微鏡都能將高解析影像與化學資訊整合，協助研究與品管人員更快速掌握樣品問題。

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資料來源：

https://www.thermofisher.com/tw/zt/home/industrial/spectroscopy-elemental-isotope-analysis/molecular-spectroscopy/fourier-transform-infrared-spectroscopy/instruments/nicolet-raptir-x-ftir-microscope.html