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多點式反射HATR 附件

2021/11/26

HATR附件特點

- 優越的能量輸出,提供高訊雜比(signal-to-noise ratio) 及圖譜品質
- 高達20次的樣品內部反射 (internal reflection) ,低樣品濃度也能具有高感度
- 拆卸式的晶體,具有對準位置,方便快速精準的切換及清潔
-多種晶體選擇 如ZnSe, KRS-5, Ge, AMTIR或 Si crystal,且可選擇入射角度 (face angles) 以調整最佳樣品入射深度
- In-compartment (HATR) 及out-of-compartment (HATRPlus)兩種光學底座供選擇,取決於樣品的大小

HATR附件介紹

HATR附件固定且具重複性的有效光徑長,適合定性及定量應用。其高靈敏度的特色,尤其適合應用於低濃度的樣品。只需要將樣品放在 HATR 晶體上便可以進行量測,完全不需要通常進行樣品製備。

in-compartment設計

圖1. 利用HATR凹槽式晶體量測所得之燃料添加劑FTIR圖譜

HATR光學底座選擇

PIKE HATR 產品具有兩種光學底座配置。HATR是in-compartment設計,當樣品大小合適,可放置於樣品倉時適用;而HATRPLUS則是out-of-compartment設計,適用於較大且無法放置於樣品倉的樣品,例如於大樣物品上的塗層、皮膚分析等。

圖2. In-compartment HATR 附件-專用於固體及液體樣品

圖3. Out-of-compartment HATR 附件-專用於液體及極大的樣品

HATR晶體選擇

使用者可快速的更換不同的晶體,PIKE提供凹槽式(trough plate),平面式(flat plate)及流動式(Flow-Through Cell)的晶體選擇。

圖4. 多種晶體選擇

平面式(flat plate)用於分析固體材料,包含高分子及薄膜樣品。尤其適合體積較大無法放進凹槽式晶體的樣品。這款晶體安裝的位置比周遭金屬的表面更上面一些,能夠讓樣品更好的與晶體接觸。ZnSe及Ge 45度角晶體也具有密封不可拆的類型供選擇,應用於油品或其他低表面張力及非揮發性液體。

圖5. 平面式(flat plate)HATR晶體-適用於固體、高分子聚合物薄膜及塗層等

凹槽式(trough plate)晶體的使用非常簡易,嵌入式的晶體適用於液體、粉末及粘稠樣品,尤其適合須使用有機溶劑清潔的樣品。基本上只需要薄薄的一層樣品於晶體表面,便可以進行量測。若是易揮發的樣品,可使用特製的蓋子,用於蓋著樣品避免樣品揮發。一般上軟性的粉末只要可以與晶體表面有密合,便可以得到非常好的圖譜品質。我們也可以使用壓桿裝置加強樣品與晶體的接觸密合度。只需要將加壓裝置放在鋪滿樣品的凹槽式晶體上,並利用手加壓直到得到滿意的圖譜。

圖6. 凹槽式(trough plate)HATR晶體-適用於液體、粉末及膠等

當有特殊的應用需觀察塗層表面,可選用RCPlate。HATR晶體可簡單的進行移除及安裝。應用範圍包含材料塗佈、單分子層及生物膜沉積的分析。使用時,只需要先收集乾淨晶體的背景圖,然後將HATR晶體從RCPlate取下進行樣品塗佈,並重新將晶體放回RCPlate就能收集樣品圖譜。

圖7. RCPlate

流動式(Flow-Through Cell)的ATR晶體以O-Ring密封,使用者可自行進行晶體更換,樣品可由針筒或1/16 英寸的管線注入。此外也有應用於光催化研究的石英視窗配置。由於外部的光源探頭,紫外線可能會導致ZnSe的降解,我們推薦光催化實驗可使用AMTIR晶體。

圖8. 加熱式UV HATR流動式附件

另外流動式晶體也可配置控溫效果,為PTFE塗層的設計。

PIKE溫控器具有銀幕觸控介面及USB插口,若需要電腦操控可搭配PIKE TempPRO軟體使用。TempPRO軟體用於進行設定及自動化實驗數據收集,可應用於等絕大部分FTIR加熱相關實驗。

圖9. HATR附件配備流動式配件(後圖)及液體流通組套件(前圖)

圖10. HATR附件配備流動式加熱配件及溫控器模組

圖11. PIKE TempPRO軟體用於動力研究實驗

您有HATR產品的需求嗎?不清楚樣品是否適合此款附件?請洽詢新國科技,我們將與您進行討論。

參考資料:https://www.piketech.com/wp-content/uploads/PIKE-Technologies_HATR.pdf

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