拉曼光譜是分析二維半導體材料的重要技術，可透過拉曼特徵峰變化評估晶體厚度、結構變化及機械應變等特性。本文以 MoS₂ 為例，說明如何運用拉曼光譜分析二維材料的結構動態，協助研究人員以非破壞方式快速掌握材料特性與分析重點。
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