拉曼偏振顯微鏡技術基礎

目錄 介紹 Porto 表示法 實驗 結果與討論 結論 文章來源 介紹 偏振拉曼光譜可提供樣品內在分子結構的重要資訊，同時也是研究高度有序系統（如晶體、取向聚合物及碳奈米管）取向特性的有效探針。本應用文章說明將著重於偏振拉曼量測的基本原理。過去，拉曼點測量通常是在塊材固體或液體樣品上進行。本應用文章所討論的偏振拉曼量測，是利用 Thermo Scientific™ DXR™3xi 拉曼影像顯微鏡及 Thermo Scientific™ DXR™3拉曼顯微鏡進行收集。 如圖1所示，DXR3拉曼顯微鏡可在微米尺度特徵上執行偏振拉曼點測量。而最新的高速拉曼影像顯微鏡，例如 DXR3xi拉曼影像顯微鏡，則進一步將偏振拉曼點測量擴展至偏振拉曼影像，並可在大面積範圍內提供亞微米空間解析度。本應用文章說明將展示偏振拉曼點測量在各向同性（isotropic）與各向異性（anisotropic）材料上的分析結果。 圖1. DXR3 and DXR3xi 顯微拉曼光譜儀。 光譜技術是研究光與物質之間相互作用的科學。光由電磁向量所組成，在一般情況下，這些電磁向量會在傳播過程中自由旋轉。當光照射到物質上時，其相互作用是多種電磁偏振狀態共同作用的結果。當光通過偏振光學元件後，光會被轉換成偏振光束，其電磁向量僅沿著單一方向或平面振動。這種光稱為線偏振光（linearly polarized light），相對於電磁向量自由旋轉的非偏振光（depolarized light）。 當材料受到線偏振光照射時，其與光的作用方式可能會因材料相對於偏振方向的取向不同而有所差異，這與非偏振光照射時的結果不同。正是這些取向差異，能夠提供額外的結構資訊。例如，某些藥物可能以不同的多晶型（polymorph）結晶存在，這些晶型在非偏振光下可能呈現相同的光譜。然而，在線偏振光下量測時，其光譜可能產生差異，進而確認特定的晶體結構。偏振量測也常被用於揭示材料中的應力狀態，例如：拉伸聚合物薄膜、摻雜矽結構、鑄造材料等系統中的內部應力分析。 典型的偏振實驗是利用線偏振光來探測樣品。首先收集沿某一偏振方向的光譜，再將線偏振光旋轉至與第一方向垂直後，收集第二張光譜。 這類量測常使用不同術語來描述，但其本質相同，例如：平行（parallel）與垂直（perpendicular）、垂直（vertical）與水平（horizontal）、X 與 Y、0° 與 90° 等。更深入的偏振研究也是可行的，但其分析可能變得相當複雜（詳見附錄）。本文將聚焦於最基本的偏振量測。 拉曼光譜特別適合進行偏振量測，因為作為激發光源的雷射本質上即為線偏振光。雖然這種天然偏振特性具有優勢（後文將進一步說明），但若未考慮雷射偏振效應，拉曼分析結果可能產生誤導。 因此，一般用途的拉曼儀器通常會刻意將雷射激發光去偏振化（depolarize），使量測結果不受樣品取向影響，進而獲得一致的分析結果。使用去偏振雷射激發所取得的光譜稱為去偏振拉曼光譜（depolarized Raman spectra）。 進階拉曼儀器，例如DXR3與DXR3xi拉曼顯微鏡，則可同時提供去偏振與偏振拉曼量測功能。其直覺化軟體介面可讓使用者輕鬆設定樣品的偏振或去偏振拉曼量測條件。 Porto 表示法 Porto 表示法（Porto Notation） 是一種用來記錄樣品相對於入射光偏振方向及散射光經分析器（Analyzer）後偏振方向的方法。 其表示方式如下： a ( b c ) d 其中： a = 入射雷射（Incident Laser）的傳播方向（Direction of Propagation） b = 入射雷射的偏振方向（Direction of Polarization） c = 拉曼散射光（Scattered Raman）的偏振方向 d = 拉曼散射光的傳播方向 括號外的兩個符號（a 與 d）表示入射雷射光及拉曼散射光的傳播方向；括號內的兩個符號（b 與 c）則表示這兩束光的偏振方向。 DXR3與DXR3xi拉曼顯微鏡皆採用180°背向散射（Backscatter）光學架構，其中顯微鏡物鏡同時負責將雷射聚焦至樣品表面，並收集樣品所產生的拉曼散射光。因此，入射光與散射光的傳播軸相同，但方向相反；此相反方向以上劃線表示。DXR3拉曼顯微鏡在樣品位置的偏振座標軸配置，以及對應於非定向樣品的 Porto表示法，如圖2所示。 笛卡兒座標系統（見圖2右側插圖）顯示了 Thermo Scientific™ OMNIC™xi軟體所採用的座標軸表示方式，用於選擇雷射激發光及樣品後偏振分析器的偏振方向。 由顯微鏡物鏡射出的入射雷射沿 z 軸傳播至樣品。拉曼散射光則由相同的顯微鏡物鏡收集，同樣沿 z 軸傳播，但方向與入射光相反。 此光路配置稱為180° 背向散射。依照慣例，反向的z軸會以上劃線（Z̄）表示，以區別其與入射光的傳播方向。平行於載物台前緣、面向儀器時由左至右的偏振方向稱為水平方向，即x軸，亦即0°偏振方向。與x軸垂直、平行於載物台由前至後方向的偏振方向稱為垂直方向，即y軸，亦即90°偏振方向。 圖2. DXR3xi拉曼顯微鏡於樣品位置的偏振座標軸配置， 以及非定向樣品所對應的Porto表示法。 實驗 所有實驗皆使用DXR3 Raman Microscope或DXR3xi Raman Imaging Microscope進行。每台儀器皆配備全自動偏振模組，可搭配455、532、633及785 nm雷射波長使用。 此偏振模組提供以下幾種操作模式： 1.去偏振拉曼（Depolarized Raman） 使用圓偏振光（Circularly Polarized Light）照射樣品。 樣品所產生的拉曼散射光直接收集並偵測。 2.偏振拉曼（Polarized Raman） 透過軟體選擇將線偏振光（Linearly Polarized Light）以水平或垂直方向照射樣品。樣品後方的偏振分析器（Post-sample Polarization Analyzer）可設定為： 平行偏振（Parallel）：與入射偏振方向相同。 垂直偏振（Perpendicular）：與入射偏振方向互相垂直。 3.角度解析偏振拉曼（Angle-Resolved Polarized Raman） 使用線偏振光照射樣品。 偏振分析器可由使用者自由設定於0°～180°之間的任意角度，以分析不同偏振角度下的拉曼散射訊號。 結果與討論 各向同性（Isotropic）與各向異性（Anisotropic）樣品 並非所有材料都會受到偏振光方向的影響。各向同性（Isotropic）是指樣品的性質（例如拉曼光譜）不會因樣品方向改變而產生差異。常見的各向同性材料包括：液體、粉末、隨機排列的聚合物。雖然這類樣品對方向不敏感，但仍可能與偏振光發生作用，使拉曼散射光的偏振方向相對於入射雷射的偏振方向發生旋轉。 相對地，晶體或受應力薄膜等材料，通常對樣品方向非常敏感，因此稱為各向異性（Anisotropic）材料。各向異性（或具有取向）的樣品具有一個對稱軸（Axis of Symmetry）或光學軸（Optical Axis）。當此軸與入射雷射偏振方向之間的相對角度改變時，所得到的拉曼光譜可能產生顯著差異。 各向同性樣品的偏振量測 對於各向同性樣品，只需進行兩種偏振量測即可完整描述其偏振特性： 分析器（Analyzer）與入射雷射偏振方向平行（Parallel） Z(XX)Z̄、Z(YY)Z̄。 分析器與入射雷射偏振方向互相垂直（Perpendicular） Z(XY)Z̄、Z(YX)Z̄。 為什麼只需兩種量測？ 考慮上述四種Porto表示法： 前兩個符號描述的是入射雷射的偏振方向。 對於各向同性樣品而言，Z(X) 與 Z(Y) 在樣品眼中沒有任何差別，因此： (XX) 與 (YY) 屬於相同的偏振條件。 (XY) 與 (YX) 也屬於相同的偏振條件。 此外，最後一個符號Z̄表示拉曼散射光的收集方向，在量測過程中保持固定，因此不影響比較結果。 因此： 只要分析器與雷射偏振方向平行，不論是 XX 或 YY，所得光譜皆相同。 只要分析器與雷射偏振方向互相垂直，不論是 XY 或 YX，所得光譜亦相同。 這是因為各向同性材料對所有方向具有相同的光學性質，因此不同偏振方向所產生的偏振交互作用完全一致。 HH／HV 表示法 當只需上述兩種偏振量測時，也常使用更簡化的 H／V 表示法： H（Horizontal）：水平偏振、V（Vertical）：垂直偏振。 例如： HH，入射雷射為水平偏振，分析器亦設定為水平偏振，即為平行偏振（Parallel Polarization）。 HV，入射雷射為水平偏振，分析器設定為垂直偏振，即為交叉偏振（Cross Polarization）。 文獻中也常見其他表示方式，例如： H_H、H_V、0°／90°。 Parallel／Perpendicular（平行／垂直） 這些表示方式本質上都代表相同的概念：針對各向同性樣品，以兩個互相正交（Orthogonal）的偏振方向進行偏振拉曼量測。 各向異性（Anisotropic）樣品的偏振量測 對於具有取向的各向異性樣品（例如晶體、拉伸薄膜、纖維等），必須清楚記錄樣品的取向軸（Sample Axis）與儀器偏振軸之間的相對位置。依照 Porto 表示法的慣例，應採用樣品本身的座標系統（Sample Coordinate System），而非儀器的座標系統來表示偏振方向。採用此方式的優點是，即使其他研究人員使用不同品牌或不同型號的拉曼儀器，只要依照相同的樣品座標方向進行對位，就能得到一致且可比較的偏振拉曼結果。 若無法辨識樣品的取向軸，或樣品的光學特性尚未知悉，建議先拍攝樣品的顯微影像（Micrograph），以記錄量測時的樣品方向。此外，若使用可旋轉式樣品載台（Rotatable Sample Holder），將有助於將已知的樣品取向軸精確對準儀器的偏振軸，使偏振量測更加容易且具有重現性。 拉曼顯微鏡可量測的四種偏振張量（Polarization Tensors） 拉曼顯微鏡最多可分析下列四種偏振組合： 1. Z(XX)Z̄ 入射雷射沿 X 軸偏振，分析器設定為通過 X 軸偏振的拉曼散射光，平行偏振（Parallel Polarization）。 2. Z(YY)Z̄ 入射雷射沿 Y 軸偏振，分析器設定為通過 Y 軸偏振的拉曼散射光，平行偏振（Parallel Polarization）。 3. Z(XY)Z̄ 入射雷射沿 X 軸偏振，分析器設定為通過 Y 軸偏振的拉曼散射光，交叉偏振（Cross Polarization）。 4. Z(YX)Z̄ 入射雷射沿 Y 軸偏振，分析器設定為通過 X 軸偏振的拉曼散射光，交叉偏振（Cross Polarization）。 建議的量測方式 對於各向異性樣品或取向未知的樣品，建議完整量測上述四種偏振組合： Z(XX)Z̄、Z(YY)Z̄、Z(XY)Z̄、Z(YX)Z̄。 如此才能完整描述樣品在不同偏振方向下的拉曼散射特性。 此外，也建議再量測一次去偏振（Depolarized，或非偏振 Non-polarized）拉曼光譜，作為完整的參考資料，以更全面地記錄樣品的光譜特性。 各向同性樣品的拉曼偏振（Raman Polarization for Isotropic Samples） 拉曼偏振量測最經典的範例之一為四氯化碳（Carbon Tetrachloride, CCl₄）。CCl₄ 是一種各向同性液體（Isotropic Liquid），其拉曼光譜主要具有 459、314 與 218 cm⁻¹ 三個特徵峰。其中，459 cm⁻¹ 的峰來自於全對稱振動模式（Totally Symmetric Vibrational Mode，A₁），因此被稱為完全偏振（Totally Polarized）振動。所謂完全偏振，表示該振動所產生的拉曼散射光，其偏振方向與入射雷射的偏振方向相同。因此，當偏振分析器（Analyzer）與入射雷射偏振方向平行時，可觀察到最大的拉曼散射強度。當分析器與入射偏振方向互相垂直時，此線偏振拉曼散射幾乎完全被消除，峰強度趨近於零。 與 459 cm⁻¹ 波段不同，314 cm⁻¹ 與 218 cm⁻¹ 的波段對偏振的敏感度較低。314 cm⁻¹ 波段源自非全對稱振動模態 E₂。此模態具有對稱的散射張量（scattering tensor），因此稱為去偏振（depolarized）模態。218 cm⁻¹ 波段同樣屬於去偏振波段。 去偏振波段（depolarized bands）的 Z(XY)Z̄／Z(XX)Z̄ 比值為 0.75。此資訊可用來判斷樣品光譜中的哪些波段屬於去偏振波段。例如，當比較交叉偏振（垂直偏振）與平行偏振拉曼光譜時，如果某個峰值高度發生變化，便可藉由計算其峰高比值來確認該峰是否為去偏振峰。若計算得到的比值約為 0.75（允許實驗誤差範圍內的偏差），則可判定該峰為去偏振峰。 圖3示範了如何利用四組偏振拉曼光譜計算四氯化碳（carbon tetrachloride）的去偏振比（depolarization ratio）。雖然比值可以僅根據其中一組量測，例如 YX/YY 或 XY/XX，但建議同時量測兩組並取其平均值。如此可降低因偏振光學元件及不同儀器之間不可避免的差異所造成的系統性偏差。 圖3. 使用DXR3xi 拉曼成像顯微鏡搭配785 nm雷射激發量測四氯化碳（CCl₄）光譜，並示範如何計算去偏振比。 圖中數值為經基線校正後的峰面積量測結果。 拉曼偏振在各向異性固體中的應用 光譜分析的一項挑戰，在於辨識哪些光譜特徵與樣品所關注的性質具有相關性。拉曼偏振在這類應用中特別具有價值。例如，某一光譜峰的去偏振比（depolarization ratio）可能反映樣品的特定形貌。然而，若僅觀察去偏振拉曼光譜本身，這些資訊未必能夠清楚呈現。 在進行拉曼偏振分析時，您會發現樣品的方向非常重要。無論是將雷射偏振方向對準已知樣品的特定晶軸，或是研究對稱性未知的樣品，都應詳細記錄樣品的擺放方向與量測條件。如此可使不同樣品之間，以及與其他實驗室的量測結果，更容易進行比較。使用DXR3拉曼顯微鏡的影像攝影機樣品顯微影像，是記錄樣品方向與量測位置的良好方式。 LiNbO₃ 範例 在前一節中，以四氯化碳（CCl₄）作為各向同性材料拉曼偏振分析的範例。本節則以鈮酸鋰（LiNbO₃）為例，說明具有已知晶體對稱性的各向異性樣品之拉曼偏振特性。LiNbO₃ 具有六方晶體結構，並具有三重旋轉對稱性。其晶體通常沿著光軸，亦即 c 軸方向生長。依照慣例，描述 LiNbO₃ 晶體時會採用笛卡兒座標系（Cartesian coordinate system），其中 z 軸與晶體的光學 c 軸平行。此垂直方向如圖 4所示。 圖4. LiNbO₃ 晶體的笛卡兒座標系示意圖， 顯示晶體分別沿各座標軸垂直切割所形成的晶面， 以及 LiNbO₃ 樣品在載玻片上以兩種不同方向放置的示意圖。 LiNbO₃ 可依下列方式製備，以進行偏振量測。LiNbO₃ 採用 X-cut 晶片，也就是沿晶體 x 軸垂直方向切割。因此，其切割表面（圖 4 中的淺藍色面）在三方晶系（或六方晶系的表示法中，分別對應於 [21—1—0]晶面。如圖 4 所示，當晶片固定於載玻片上時，較長的一邊對應晶體 z 軸，較短的一邊對應晶體 y 軸；而晶體 x 軸則垂直於樣品表面，並與入射雷射光方向平行。 對於具有固定晶體方向的固體樣品，採用 Porto 表示法十分重要，因為它能提供一致的方式，使不同儀器所得到的結果可以互相比較。前面討論各向同性樣品（如液體）時，Porto 表示法採用的是儀器座標系；而對於具有固定方向的晶體樣品，則慣例上採用晶體軸的笛卡兒座標系來表示 Porto notation。以 LiNbO₃ 為例，Porto 表示法中最外側兩個符號（代表入射光與散射光的傳播方向）皆與晶體 x 軸平行。中間兩個符號則表示偏振光相對於晶體座標軸的方向。 例如，當 LiNbO₃ 晶片以長邊沿樣品平台前後方向放置，且雷射偏振方向設定為 Vertical（垂直）時，Porto 表示法中的第一個內側符號為 Z，表示入射光偏振方向與晶體 z 軸平行；若第二個內側符號為 Y，則表示分析器偏振片的偏振方向沿晶體 y 軸，亦即與入射光偏振方向互相垂直。 X (Z Y) X̄ 若將經 X-cut 的鈮酸鋰（LiNbO₃）樣品，依序沿著儀器的 x 軸與 y 軸方向放置，並且針對每一種樣品方向，量測雷射偏振片與分析器偏振片的四種組合位置，則總共會取得 8 組偏振 LiNbO₃ 拉曼光譜，如圖 5 所示。 圖 5： LiNbO₃ 樣品固定於載玻片上的垂直方向（左側）與水平方向（右側）所量測得到的偏振拉曼光譜，並標示其對應的 Porto 表示法。 偏振片的設定資訊會被記錄於光譜收集資訊中。附加於樣品名稱後方的_XY標記，代表儀器的偏振設定，其中第一個字母表示雷射偏振片的方向，第二個字母表示分析器偏振片的方向。請注意，具有相同 Porto 表示法的光譜，即使其實際樣品放置方向不同，或所使用的偏振光學元件設定不同，其光譜結果仍會完全相同。 將 Porto 表示法與樣品晶體軸方向建立關聯，可提供一個共同的參考基準，使這類光譜比較能夠一致且具有意義。若將所有光譜以相同的垂直軸尺度繪製，並進行適當的垂直位移排列，如圖 6 所示）則可以像分析 CCl₄ 一樣，透過視覺比較來尋找去偏振峰。 圖 6：將 LiNbO₃ 光譜以交叉偏振配對方式繪製。 所有光譜皆採用相同的Y 軸尺度與垂直位移設定，以便進行比較。 光譜量測範圍涵蓋完整的拉曼位移區間 50–3300 cm⁻¹； 在此範圍內，僅觀察到圖中所顯示的這些特徵峰。 很容易看出，不同的偏振條件會產生豐富的光譜特徵變化，且所有光譜峰皆對偏振條件具有敏感性。在此案例中，由於樣品種類已知，且晶體軸方向已與儀器的偏振座標軸進行特定方向的排列，因此可以根據特定的拉曼偏振張量來對各光譜峰進行歸屬分析。 對於未知樣品而言，也可以量測相同組合的偏振光譜，並進行比較。雖然未知樣品的晶體對稱性細節可能無法得知，但只要能保持一致的樣品取向，仍可將不同偏振條件下產生的光譜差異，與樣品本身的特性建立關聯。 結論 本應用說明中介紹了拉曼偏振量測的基本原理與基礎概念。文中引入了 Porto 表示法（Porto notation），作為記錄樣品方向與入射光偏振方向，以及樣品後方散射光分析器（analyzer）方向關係的方法。透過此表示方式，可以確保不同實驗條件下的拉曼偏振量測結果能夠被一致地解讀與比較。 本文展示了兩種類型樣品的拉曼點偏振量測結果，分別為： 1.各向同性樣品（isotropic sample）：四氯化碳（CCl₄） 2.各向異性樣品（anisotropic sample）：鈮酸鋰（LiNbO₃） 拉曼偏振量測可提供與分子或晶格振動特性相關的重要資訊，不僅能揭示振動模式的本質，也有助於不同光譜峰的振動模態歸屬。後續的應用說明將進一步擴展此量測技術，從單點拉曼偏振量測延伸至拉曼偏振成像。 文章來源 https://nicoletcz.cz/app/uploads/2021/08/7b72326b.pdf

淺談顯微紅外光譜儀(Micro-FTIR)及分析技術

傅立葉轉換紅外顯微光譜儀(Micro-FTIR)分析已廣泛應用於司法鑑定中各類物證材料樣品的定性和定量分析。

目錄 紅外顯微光譜儀分析理論 紅外顯微光譜儀分析用途 紅外顯微光譜儀分析優點 紅外顯微光譜儀靈敏度高 紅外顯微光譜儀能進行局部分析 樣品製備簡單 紅外顯微鏡光路調節簡單 保持樣品形態 紅外顯微光譜儀分析理論 分子中存在多種類型的振動模式，其中一些振動模式可以引起分子偶極距發生變化，當這類振動的頻率和紅外光頻率相同時，分子能夠吸收紅外光的能量，形成紅外吸收光譜(IR)。不同的化合物因其分子結構不同，紅外吸收光譜的特徵峰不同，如同人類的指紋，沒有兩個是完全吻合的。因此，在鑑定高分子材料時，紅外光譜FTIR技術被認爲是非常有效的方法。 圖1.分子振動模組類別 以一束紅外光照射樣品，樣品所含的分子將會吸收一部分光能，並轉變爲分子的振動能和轉動能。藉助於儀器將吸收值與相應的波數作圖，即可獲得該試樣的紅外吸收光譜，紅外光譜中的每一個特徵吸收譜帶都包含了樣品分子中官能基和化學鍵結的訊息。不同物質有著不同的紅外光譜，將樣品的紅外光譜和已知的紅外光譜進行比較從而鑑別材料。 圖2.Thermo光譜儀-顯微紅外光譜儀家族 顯微紅外分析就是將紅外光譜與顯微鏡結合在一起的分析方法，它利用不同材料(主要是有機物)對紅外光譜不同吸收的原理，分析材料的化合物成分，再結合顯微鏡可使可見光與紅外光同光路，只要在可見的視野範圍下，就可以尋找要分析微量的有機汙染物區域。如果沒有顯微鏡的技術搭配，通常紅外光譜只能分析樣品量較多的樣品，也較難進行樣品的局部區域偵測。在很多情況下，只要微量的汙染就可能導致PCB焊盤或引線腳的可焊性不良，若沒有搭載顯微鏡技術的紅外光譜是很難解決這類問題的。顯微紅外分析的主要用途就是分析被焊面或焊點表面的有機汙染物，分析腐蝕或可焊性不良的原因。 圖3.PCB焊盤汙染檢測案例 紅外顯微光譜儀分析用途 結構鑑定、定量分析和化學動力學研究等，它的解析能夠提供許多關於官能團的訊息，利用紅外吸收峰的位置與強度，可以用來鑑別未知物的結構組成或確定其化學成分；而吸收譜帶的吸收強度與官能基的含量的多寡有關，可用於進行定量分析和純度鑑定。 傅立葉轉換顯微紅外光譜儀(Micro-FTIR)分析是一種重要的現代分析手段和方法，已廣泛應用於司法鑑定中各類物證材料(包括有機、無機物證材料)樣品的定性和定量分析，不僅能準確的確定物證材料的各種化學成分，還可以採用對比分析的方法，快速有效地得到直接的取證結果。在分析測試工作中，應用紅外光譜分析技術，並結合顯微鏡或層析、熱重分析等技術，運用於毒品走私、炸藥爆炸、僞造假幣、書畫防僞、保全鑑定等刑事領域樣品進行分析鑑定，並提供準確數據和分析結論等科學依據。 圖4.紅外顯微光譜儀量測模式選擇 紅外顯微光譜儀分析優點 紅外顯微光譜儀靈敏度高 (1)靈敏度高，樣品量至10微克以下，如此量少就足以獲得很好的紅外光譜圖。 紅外顯微光譜儀能進行局部分析 (2)能進行局部分析，其顯微鏡測量孔徑可到8微米或更小，在顯微鏡觀察下，可方便地根據需要選擇樣品不同區域進行分析。對非勻相樣品可在顯微鏡下直接測量樣品上各區域的紅外光譜圖。 樣品製備簡單 (3)樣品製備簡單，對不透光樣品可直接測定反射式量測方法。 紅外顯微鏡光路調節簡單 (4)顯微鏡光路調節簡單，顯微觀察與紅外光譜分析是同一光路，容易實現顯微鏡對樣品待分析部位定位。 保持樣品形態 (5)分析過程中可保持樣品原有形態和晶型，樣品不被破壞。 紅外光譜儀全部商品一覽   [ { "@context": "https://schema.org", "@type": "FAQPage", "mainEntity": [ { "@type": "Question", "name": "紅外顯微光譜儀分析理論", "answerCount": 1, "upvoteCount": 1, "acceptedAnswer": { "@type": "Answer", "text": "顯微紅外分析就是將紅外光譜與顯微鏡結合在一起的分析方法，它利用不同材料(主要是有機物)對紅外光譜不同吸收的原理，分析材料的化合物成分，再結合顯微鏡可使可見光與紅外光同光路，只要在可見的視野範圍下，就可以尋找要分析微量的有機汙染物區域。如果沒有顯微鏡的技術搭配，通常紅外光譜只能分析樣品量較多的樣品，也較難進行樣品的局部區域偵測。在很多情況下，只要微量的汙染就可能導致PCB焊盤或引線腳的可焊性不良，若沒有搭載顯微鏡技術的紅外光譜是很難解決這類問題的。顯微紅外分析的主要用途就是分析被焊面或焊點表面的有機汙染物，分析腐蝕或可焊性不良的原因。", "upvoteCount": 1 } }, { "@type": "Question", "name": "紅外顯微光譜儀分析用途", "answerCount": 1, "upvoteCount": 1, "acceptedAnswer": { "@type": "Answer", "text": "傅立葉轉換顯微紅外光譜儀(Micro-FTIR)分析是一種重要的現代分析手段和方法，已廣泛應用於司法鑑定中各類物證材料(包括有機、無機物證材料)樣品的定性和定量分析，不僅能準確的確定物證材料的各種化學成分，還可以採用對比分析的方法，快速有效地得到直接的取證結果。在分析測試工作中，應用紅外光譜分析技術，並結合顯微鏡或層析、熱重分析等技術，運用於毒品走私、炸藥爆炸、僞造假幣、書畫防僞、保全鑑定等刑事領域樣品進行分析鑑定，並提供準確數據和分析結論等科學依據。 ", "upvoteCount": 1 } }, { "@type": "Question", "name": "紅外顯微光譜儀分析優點", "answerCount": 1, "upvoteCount": 1, "acceptedAnswer": { "@type": "Answer", "text": "(1)靈敏度高，樣品量至10微克以下，如此量少就足以獲得很好的紅外光譜圖。(2)能進行局部分析，其顯微鏡測量孔徑可到8微米或更小，在顯微鏡觀察下，可方便地根據需要選擇樣品不同區域進行分析。對非勻相樣品可在顯微鏡下直接測量樣品上各區域的紅外光譜圖。(3)樣品製備簡單，對不透光樣品可直接測定反射式量測方法。(4)顯微鏡光路調節簡單，顯微觀察與紅外光譜分析是同一光路，容易實現顯微鏡對樣品待分析部位定位。(5)分析過程中可保持樣品原有形態和晶型，樣品不被破壞。", "upvoteCount": 1 } } ] } ]